米格实验室-半导体器件可靠性及失效分析服务-预处理试验
时间:20/03/28

预处理试验(preconditioning):预处理试验是为了评估器件在包装,运输,贴片过程中的承受能力。通过试验还可以得到器件的湿度敏感度等级MSL(参照标准:J-STD-020C)和回流焊敏感度等级(参照标准J-STD-020D)。


1. MSL测定的流程是:

 (1) 良品IC 进行SAT,确认没有脱层的现象。

 (2) 将IC烘烤,以完全排除湿气。

 (3) 依MSL等级加湿。

 (4) 过 IR-Reflow 3次 (模拟 IC 上件,维修拆件,维修再上件)。

 (5) SAT 检验是否有脱层现象及 IC 测试功能。

若能通过上述测试, 代表 IC 封装符合 MSL 等级。

MSL的分类有8级,具体如下:

1级-小于或等于30°C/85% RH 无限车间寿命

2级-小于或等于30°C/60% RH 一年车间寿命

2a级-小于或等于30°C/60% RH 四周车间寿命

3级-小于或等于30°C/60% RH 168小时车间寿 命

4级-小于或等于30°C/60% RH 72小时车间寿命

5级-小于或等于30°C/60% RH 48小时车间寿命

5a级-小于或等于30°C/60% RH 24小时车间寿命

6级-小于或等于30°C/60% RH 72小时车间寿命(对于6级,元件使用之前必须经过烘焙,并且必须在潮湿敏感注意标贴上所规定的时间限定内回流)


2. 回流焊敏感度等级的测试流程如下图

servers/1585379654.png


3. 测试设备

(1)回焊炉

servers/1585379670.png

设备参数:

温度范围:室温~400℃

加热温区:上10/下10

温度精度:±1℃

常规温度:245℃//260℃

炉温测试仪

通道数:10 通道

测温精度:±1℃


(2)温度循环试验机(TCT)

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设备参数:

设备能力:

-75 ℃~250 ℃

常规条件:

1.-65℃~150℃, Dwell=20 min

2.-55℃~150℃, Dwell=20 min

预处理可造成的失效模式有:焊料流出,分层,表面平整度的变化,内部封装裂纹,爆米花间隙,外部封装裂纹,焊球裂纹,焊线断裂,焊点脱离,焊球颈部断裂,键合断裂,die裂纹。


环境测试失效案例:

servers/1585379812.png

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