扫描电镜 SEM / EDS / EBSD / TKD / CL / ECCI
¥面议
周期:3-5个工作日
设备:Tescan clara
蔡司 Gemini SIGMA 300
HITACHI SU8100
日立Regulus8230
主要用于对材料的微观形貌、组织、成分、晶体取向和缺陷进行有效分析
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样品要求
导电性好,稳定性好
一般尺寸小于5cm,大尺寸请咨询技术经理
EBSD,TKD需要制样
样品有磁性需要提前告知技术经理!
服务描述
二次电子像,背散射电子像,能谱EDS,阴极荧光CL,电子背散射衍射EBSD,TKD,ECCI等
案列展示
案例一:SEM看截面形貌

案例二:SEM看截面形貌

案例三:阴极荧光CL

案例四:EBSD

案例五:ECCI

案例六:EDS成分分析
