50至150mm
非接触高阻电阻率测试仪是通过非接触电容探测系统来计算被测晶片的电阻
设备型号:COREMA-WT生产厂家:Semimap可检尺寸: 50至150mm可检材料:Si、SiC、GaAs测试范围:105Ω·cm ~1012Ω·cm偏差:<10%
四探针/电导率/电阻率/方阻
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