服务详情
AFM-IR纳米红外分析系统
¥面议
周期:7
设备:美国布鲁克 NanoIR3
AFM-IR纳米红外分析系统,红外光谱扫描范围:800-3600cm-1;光谱分辨率:800-2700cm-1范围1cm-1; 2700-3600cm-1范围4cm-1。红外光谱图像空间分辨率:10nm。具备红外成像和连续红外光谱采集功能。
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样品要求


1. 最⼤样品尺⼨:15 mm×15 mm×10 mm(⻓宽⾼)。

2. 可检测区域:位于样品中⼼位置10 mm之内。

3. 样品表⾯粗糙度:RMS < 50 nm。

4. 制备基底:⾦基底、红外透光基⽚(如:ZnS、ZnSe、BaF)、云⺟⽚、硅⽚、玻璃⽚。

5. 样品厚度对基底的要求:> 100 nm可使⽤普通基底,<100 nm应使⽤⾦基底或红外透光基⽚。

服务描述

1. 样品扫描范围:XY方向50μm×50μm,Z方向>6μm;扫描分辨率:XY 0.2nm;Z:<0.1nm。

2. 样品台X,Y移动范围8mm×8mm,移动精度值200nm;

3. 红外光谱扫描范围:800-3600cm-1;光谱分辨率:800-2700cm-1范围1cm-1; 2700-3600cm-1范围4cm-1。红外光谱图像空间分辨率:10nm。

4. 具备红外成像和连续红外光谱采集功能。

5. 纳米热学模块可以实现探针自加热,加热温度可达400℃,加热速率10000℃/s;可以测量100nm分辨率以下的相转变(熔点-温度曲线)。

6. 导电原子力显微镜:最大电流量程2.7μA;电流噪音<10pA。


测试内容:

1. 扫描样品微区的AFM形貌图(接触模式、轻敲模式)

2. 定波数扫描红外图像。

3. 定点采集红外光谱。

4. 纳米热学模式:样品微区纳米尺度热熔点测量(探针加热温度:室温-400摄氏度左右;微区热熔点温度分布图以及热导率分布图。

5. 导电模块:样品微区电流分布图测量

案列展示