服务详情
原位小角X射线散射(SAXS)和广角X射线散射(WAXS)
¥面议
周期:5
设备:法国Xenocs Xeuss 2.0/3.0
小角X射线散射(SAXS)和广角X射线散射(WAXS)作为先进的表征技术,广泛应用于纳米材料、高分子材料、粉末材料等多种材料的微观结构分析。用于各种材料内部纳米结构的二维小角散射分析,获取纤维材料内部的纳米尺度缺陷的形状、尺寸分布、取向和孔隙率等信息,也可用于其他材料形式诸如块体、粉体以及液体、胶体、薄膜材料中纳米结构的分析,还可进行变温、拉伸等原位在线测试分析,可以分析各向异性和各向同性的纳米结构。设备具有全自动的操控性能,包含双光源自动切换、探测器到样品距离全程自动调节、大面积二维散射图谱自动采集等功能。
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样品要求

适用粉末、固体、薄膜、液体、纤维等

液体是测试只需要0.5mL,最好再提供2-5mL备用

服务描述

测试内容

1、常规测试

2、高低温测试温度范围室温~350℃

3、加载测试0.01N-20N;同时配备200N

 

设备介绍
X-射线源:微聚焦光源,功能覆盖点/线光源功能,具有二维探测功能;配备两套微聚焦光源, Cu靶(波长1.54 Å)和 Mo靶(波长0.71 Å);Cu靶:靶上焦斑(直径)30 mm,电子束的功率密度>  8.0 kW/mm2;Mo靶:靶上焦斑(直径) 50 mm,电子束的功率密度> 5.0 kW/mm2;双光源具备自动移动功能,无需手动操作,无需校准光路,实时自动切换。

X-射线准直系统:

§ 无散射狭缝准直系统;

§ 光斑大小在0.15 ~ 2.0 mm范围内实时、连续、自动改变,精度≤ 0.001 mm;

§ 样品处最大X射线的通量 ≥ 4.5 ´ 108 phs/s。

样品腔及样品台:

§ 超大样品腔,内部规格约80升,具备开放式环境测试功能:可直接进行空气环境的正常测试(入射及散射光路仍处于真空);

§ 样品自动对中:样品台在垂直于入射光路的X/Z(水平/竖直)方向自动移动的行程 ± 50mm(0~100 mm),精度 1mm,样品可精确自动对中;

§ 配备含自动进样功能的样品台:块体材料样品台;液体毛细管样品台;固体或粉末样品台

§ 多自由度掠入射GiSAXS样品台:掠入射角:Omega轴自动旋转范围 -3°~ +5°,精度 0.002°;样品倾角:绕Y轴(入射光路方向)可自动旋转范围 ±3°,精度 0.002°;样品沿法线自转:Phi轴 (Z轴方向)自动旋转范围 ± 91°,精度 0.001°;

§ 高温样品台:温度范围室温~350℃,精度 0.1℃;低温装置:-150℃~室温,控温精度 0.1℃;

§ 拉伸样品台(张力范围0.01N到20N),精度0.001N;同时配备200N拉伸拓展模块,精度0.01N;拉伸速度范围1-1000 μm/s,可同时变温加载,温度范围-150℃~+250℃,控温精度 0.1℃。

混合像素单光子计数探测器:

§ 单个小角探测器的敏感区面积83.8×100.5 mm2,总面积83.8×106.5 mm2;

§ 具备无beam stop采集数据的功能;

§ 小角探测器到样品的最小距离≤ 45 mm,最大距离 ≥ 1800 mm;

§ 样品沿光路方向的位置固定,小角探测器在真空管路内沿光路方向全程(距离样品45mm~1800 mm范围内)、连续、自动的移动;

§ 小角探测器在光路中可垂直于入射光路的水平(X轴)/垂直(Z轴)方向自动移动,可自动采集≥ 470 cm2的超大面积的原始二维散射图谱。

二维小角数据采集功能:散射矢量大小以Cu靶波长为准

§ 最小可测量散射矢量qmin≤ 0.015 nm-1;

§ 样品固定不动时,单个小角探测器可测试的qmax ≥ 48 nm-1;

§ 样品固定不动时,单个小角探测器可自动、连续采集0.015 ~ 46 nm-1的q范围,且在任意q处单次曝光的单张二维图谱面积不小于80 cm2;

§ 全方位角二维散射图谱的采集功能:可自动采集q≥ 40 nm-1处360°方位角(完整圆弧)的原始二维图谱;

§ 二维小角可实际分析的最大纳米粒径尺寸≥ 340 nm(SiO2标准纳米粒子的实际测试尺寸值);

§ 具备在线实时采集小角、广角数据,小角/广角连续自动测试功能。

案列展示