扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope)
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- 技术参数:
- 功能特色:
- 基本特性:
仪器噪声:闭环XY噪声 ≤ 0.15 nm, 开环XY噪声 ≤ 0.10 nm。闭环Z向噪声35 pm RMS。
控制器:Nanoscope V,可同时采集8个通道数据,精度达到5120 × 5120。
扫描范围: 90 µm × 90 µm × 10 µm。
样品尺寸:直径 ≤ 210 mm, 厚度 ≤ 15 mm。
基本模式:空气及液下的轻敲模式(Tapping)、接触模式(Contact)、扭转共振模式(TRmode)及智能扫描模式(ScanAsyst)。
扩展模式:静电力显微镜(EFM),表面电势测量(SEPM),磁力显微镜(MFM),侧向力(横向力/摩擦力)显微镜(LFM),相位成像(Phase Imaging),加热/冷却(Heater/Cooler),纳米刻蚀(Nanoman)。
- 样品要求:
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