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激光椭偏仪 SE500

技术参数：
功能特色：
基本特性： 反射与椭偏组合测量。 反射测量波长范围450 nm到920 nm; 椭偏测量波长：632.8nm; 标准光斑直径≥1mm； 膜厚测量范围1nm～10 um； 角度调整范围400-900； 样品台直径≥6"，高度及水平可调。
样品要求：
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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