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全反射X射线荧光光谱仪（TXRF） Rigaku NanoHunter

技术参数：
功能特色：
用途及功能： 主要用于固体材料表面最外层（约5nm）元素组成的定性和定量分析，能够对薄膜、固体、粉末、液体等样品进行分析，可检测元素为Al至U。
样品要求：
应用领域：
收费标准：
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