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棱镜耦合仪 Metricon Model 2010

技术参数：
功能特色：
1.用于测量厚度为1微米以上的介质膜；2.光源的波长为632.8nm；3.厚度准确度为1nm；4.折射率准确度：0.0001；
样品要求：
应用领域：
半导体微纳加工
收费标准：
价格   面议

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