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场发射扫描电镜 NanoSEM650 FEI

技术参数：
功能特色：
主要用于研究各种样品的细微结构、表面形貌、成分分析，可以应用到各个领域，是光学显微镜的重要补充，是显微观察学的重要技术手段。
样品要求：
应用领域：
半导体微纳加工
收费标准：
价格   面议

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