扫描电子显微镜(S-4800) S-4800 日立

技术参数:
加速电压:0.5 ~ 30kV,0.1kV/步 分辨率:1.0nm (30kV) 放大倍率:×20-×800,000 电子枪:场发射电子源 物镜光阑:可加热自清洁式 探测器:高位和低位二次电子探头,可接受二次电子和背散射电子成像 样品室和样品台:样品台3轴马达驱动;移动范围:X:0~50mm;Y:0~50mm;Z:1.5~30mm;T:-5~70°;R:360° X射线能谱仪:分辨率/有效面积不低于137eV,20mm2;具有点分析、线分析、面分析功能
功能特色:
扫描电镜已广泛应用于材料科学、冶金、地质勘探,机械制造、生产工艺控制、产品质量控制、灾害分析鉴定、宝石鉴定、医学、生物学等科研和工程领域,具体情况如下: 1.金属、非金属及复合材料、生物样品表面形貌、组织结构的观察分析及照相。 2.纳米材料:纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计。 3.微区成分的定性、定量计算,并对重点区域做元素分布图。 4.颗粒样品粒径、面积、周长、圆度的测量,提供粒度分布图,并可对孔径样品做孔径分布直方图。 5.可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量。 6.机械设备
样品要求:
应用领域:
收费标准:
价格   面议