透射电子显微镜 Tecnai F30 美国 FEI公司
- 技术参数：
- 1． 加速电压: 300kV点分辨率: 0.205 nm；线分辨率: 0.102nm；信息分辨率：0.15 nm。 2． X射线能谱分析：能量分辨率130.8 eV；元素分析范围 B5～U92。 3． GIF系统：能量过滤像、电子能量损失谱（分辨率0.75eV）。 4． STEM系统：用高角环形暗场探头（HAADF）获得Z-衬度像（分辨率: 0.2 nm）。 5． 全息术：可同时记录图像的振幅和位相信息。0.2 nm以上范围内的形貌、结构、电子态、元素成分分析等。
- 功能特色：
- 该设备适用于物理学、化学科学、材料科学、地质等领域样品的微观组织、结构、电子态、成分等的科学研究和分析测试，可在纳米尺度范围内研究样品的微结构、原子像、化学成分、电子态、全息术等。
- 样品要求：
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
