透射电镜 Tecnai F20 FEI

技术参数:
样品测量分辨率:0.14nm;明场、暗场成像;电子衍射选区分析、能谱分析。
功能特色:
电子束亮度高,束斑尺寸小,相干性好,综合分析能力强
样品要求:
应用领域:
形貌分析、组织结构、成分分析、TEM像、STEM、EDX mapping
收费标准:
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