热场发射扫描电镜
Merlin
热场发射扫描电镜 Merlin 德国ZEISS ULTA 55
- 技术参数：
- 分辨率：1.0nm @ 15kV；1.7nm @ 1kV；3.5nm @ 0.2kV；4.0nm @ 0.1kV
放大率：12×～ 900,000×（SE）
加速电压：0.1kV～30kV
样品电流：4pA～20nA
样品室：330（内径）mm×270（高）mm
样品台：行程：X＝130mm；Y＝130mm；Z＝130mm；旋转：360°连续；倾斜：-3°~ +70°
附件：1. INCA X-MAX 50 电制冷X射线能谱仪：能量分辨率：129eV@MnKα；探测元素范围：Be4-U92
2. HKL Nordlys 电子背散射衍射（EBSD）分析系统：空间分辨率：50nm；标定速度：600点/秒
- 功能特色：
- 可以高分辨率观察和测试微米、纳米级样品的表面形貌像、成份像、表面成份及取向。可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。
- 样品要求：
- 1.样品需保证无磁性，无辐射，对电镜没有污染及损伤。粉末、块体材料。块体样品横向尺寸小于40mm，高度低于7mm。
- 应用领域：
- 生物，医学，动物，材料，陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂…化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品
- 收费标准：
- 价格 面议
