高分辨透射电子显微镜 JEM-2010 日本电子
- 技术参数：
- 仪器设备性能参数： 加速电压：80~200kV； 分辨率：点分辨率0.19纳米，点阵分辨率0.14纳米； 放大倍率：2,000~1500,000； 能谱仪：Link-Inca超薄窗口能谱仪，元素分析范围：B-U，空间分辨极限达纳米尺寸。 5、 配备有TV扫描型Gatan 622SC相机，可即时调整离焦量和象散，容易获得高质量的高分辨电子显微图像； 6、 配备有Gatan794慢扫描CCD相机，可将电镜图象数字化处理，并进行记录存储，既可以改善图片质量又可以进行即时理论计算。 功能用途： 可以进行纳米相与界面等结构与成分的综合分析。
- 功能特色：
- 可以进行纳米相与界面等结构与成分的综合分析。
- 样品要求：
- 1.3mm直径的铜环、通网、微栅样品；2.无磁性样品；3.FIB切割样品；
- 应用领域：
- 可以进行纳米相与界面等结构与成分的综合分析
- 收费标准：
- 价格 面议
