X射线能谱仪 APEL A8 美国伊达克斯有限公司
- 技术参数：
- 1.探头分辨率优于129eV，峰背比优于20000:1 2.检测元素范围Be4 - Es99 3.最大计数率500,000cps 4.最大图象采集分辨率8192x6400象素（矩形）；8192x8192像素（方形） 5.最大面分布图采集分辨率2048x1600象素（矩形）；2048x2048（方形）
- 功能特色：
- 应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜，并且可以同EDAX公司的OIM（电子背散射衍射取向成像分析系统）和ACT（自动晶体学分析系统）构成一体化分析系统。
- 样品要求：
- 小于8CM*8CM*2CM
- 应用领域：
- 主要用来表征材料表面元素及其化学状态
- 收费标准：
- 价格 面议
