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膜厚测量椭偏仪 Smart SE 法国HORIBA Jobin Yvon

技术参数：
光谱范围：450-1000nm · 多种微光斑自动选择，精度〈1nm · 专利光斑可视技术，可观测任何 样品表面 · CCD 探测器 · 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ 方向 · 自动调节; Z 轴高度>35mm 主要功能及应用范围：测试各种透明薄膜膜厚
功能特色：
测试各种透明薄膜膜厚
样品要求：
应用领域：
主要用于光学膜、电学膜以及半导体领域的高质量薄膜。
收费标准：
价格   面议

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