未收藏
能谱分析EDX成分分析
FEI
能谱分析EDX成分分析 FEI 北软检测芯片测试实验室
技术参数:
1.芯片电路修改和布局验证 2.Cross-Section截面分析 3.Probing Pad 4.定点切割
功能特色:
成分分析
样品要求:
样品情况,分析要求,样品尺寸,样品材质,导电性
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
环境扫描电镜MLA:形貌分析+能谱(米格)
MLA 250,Quanta 250
透射电镜样品制备
RES101
透射电镜:磁性样品形貌(米格)
Tecnai G2 F20
DVM5000HD型2D/3D形貌仪
免费咨询
我要使用