聚焦离子束fib 双束显微镜
Strata 400S
聚焦离子束fib 双束显微镜 Strata 400S FEI
- 技术参数:
- 加速电压5kV-30kV,放大率:300×~500,000×;分辨率2nm;配备二次电子探头(SED),背散射电子探头(BSD),扫描透射电子探头(STEM),纳米机械手(OmniProbe),气相沉积系统(GIS)。
(离子光学系统)分辨率:10nm ;
(电子光学系统)分辨率:1nm;
(离子光学系统)发射源:镓液态金属离子源;
气体源:C 、Pt;
机械手:有机械手
最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm
设备附件:STEM
电子束产生模式:场发射
相关软件:Autoslice
- 功能特色:
- 有 Pt 和 C 两种源
- 样品要求:
最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm
- 应用领域:
- 收费标准:
- 价格 面议