聚焦离子束fib 双束显微镜 Strata 400S FEI

技术参数:
加速电压5kV-30kV,放大率:300×~500,000×;分辨率2nm;配备二次电子探头(SED),背散射电子探头(BSD),扫描透射电子探头(STEM),纳米机械手(OmniProbe),气相沉积系统(GIS)。 (离子光学系统)分辨率:10nm ; (电子光学系统)分辨率:1nm; (离子光学系统)发射源:镓液态金属离子源; 气体源:C 、Pt; 机械手:有机械手 最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm 设备附件:STEM 电子束产生模式:场发射 相关软件:Autoslice
功能特色:
有 Pt 和 C 两种源
样品要求:

最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm

应用领域:
收费标准:
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