成像应力仪
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- 技术参数:
- 通用应力仪根据应力双折射原理,利用应力双折射现象。偏振激光经样品和主机内部的检偏后形成含应力信息的光斑图像,在主机内部的CCD上成像。专用工作站获取图像后,通过专用分析软件分析出样品内部的应力信息,并将应力分布以图像的形式显示出来。 利用该型号的应力仪可以实现以下功能:(1)快速测量光学材料的内部应力,有利于挑选合格的光学材料,如光学玻璃,光学晶体;(2)快速测量材料内部的应力分布,从一块毛坯料中挑选适合继续加工的区域,如从Nd:YAG晶体毛坯中快速选择加工区域,加工高质量的晶体棒或晶体板条;(3)通过在线观察光学系统的应力变化,指导光学装调,使系统装校应力最小。该成像应力仪具体指标参数为: 1、测量区域尺寸:不小于Φ180mm2、延迟测量范围:约0 to 280 nm3、空间分辨率:0.09mm/px4、重复测量精度(RMS):0.1nm(整个成像面内的重复性,非单点)5、CCD分辨率:不低于2000 x 2000 pixels
- 功能特色:
- 材料的残余应力检测与精确测量
- 样品要求:
- 应用领域:
- 收费标准:
- 价格 面议