未收藏
断口观察、金相样品观察、EDS分析、EBSD分析
Quanta650 FEG
断口观察、金相样品观察、EDS分析、EBSD分析 Quanta650 FEG 美国FEI公司
技术参数:
功能特色:
样品要求:
金相样品、断口样品
应用领域:
金属材料
收费标准:
价格 面议
为您推荐
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
Rigaku NanoHunter
PT ICP刻蚀系统
VersalineTM LL-DSE
离子减薄仪
Model 1010
光致发光PL:光致发光激发谱PLE(米格)
时间分辨光致发光发射谱TRPL
免费咨询
我要使用