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扫描电镜：形貌分析（米格）
NanoSEM 430
扫描电镜：形貌分析（米格） NanoSEM 430 FEI公司
技术参数：
热场发射扫描电镜
功能特色：
样品要求：
样品要求：2cm*2cm*2cm，或者其小的片；
应用领域：
收费标准：
价格 面议
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