未收藏
扫描电镜:形貌分析(米格)
NanoSEM 430
扫描电镜:形貌分析(米格) NanoSEM 430 FEI公司
技术参数:
热场发射扫描电镜
功能特色:
样品要求:
样品要求:2cm*2cm*2cm,或者其小的片;
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
透射电镜样品制备
MTP-1A
耐电压绝缘电阻测试仪
金相显微镜
实体显微镜
MX61F
免费咨询
我要使用