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高分辨透射电镜整包：FIB制样+观察(米格) Tecnai G2 F20 FEI

技术参数：
场发射透射电子显微镜
功能特色：
样品要求：
直径3mm铜环样或微栅样品，适用纳米材料、粉体、半导体等
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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