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透射电镜制样：FIB制样(米格) Helios 600i FEI

技术参数：
聚焦离子束（FIB）
功能特色：
样品要求：
2cm*2cm*5mm大小以内，金属样品、半导体样品、陶瓷、SiC、蓝宝石等材料
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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