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XPS分析：深度分析（XPS）（米格） x 射线光电子能谱仪 PHI Quantera SXM TM

技术参数：
x 射线光电子能谱仪
功能特色：
样品要求：
在1nm到3nm深度分辨率下分析到μm量级深度的深度剖面分析；束斑<9um,分辨率0.5 eV，分析元素组成、化学价态和电子态
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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