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PVA声扫描显微镜 SAM400 PVA TePla

技术参数：
扫描模式：A,B,C,D,G,P,T,X,3D 扫描；扫描分辨率：±0.1um；扫描范围：420×420mm；探头最高频率：400MHz
功能特色：
该设备用于器件失效分析，观察芯片及封装内部空洞、缺陷等；
样品要求：
应用领域：
集成电路测试；塑封器件分层；芯片封装；
收费标准：
价格   面议

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