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XPS分析:剖层分析
X射线光电子能谱仪
XPS分析:剖层分析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
样品要求:干燥、无磁性的粉末或者薄片,样品量最好在10g以上;块状的话尺寸:5*5mm*1.2mm以下,若样品有磁性只能是粉末不能是薄片;
应用领域:
收费标准:
价格 面议
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