未收藏
XPS/UPS分析:能带分析
X射线光电子能谱仪
XPS/UPS分析:能带分析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
空间分辨率可达3um,穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
场发射枪透射电子显微镜
Tecnai G2 F20
金属封装器件开封机器
BFL1100
UPS分析:常规分析,紫外光电子能谱,包含分析
X射线光电子能谱仪
夹杂物检测
ASPEX
免费咨询
我要使用