未收藏
XPS/REELS分析:解决方案
X射线光电子能谱仪
XPS/REELS分析:解决方案 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
空间分辨率可达3um,穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
软包电池制造与封装系列设备
铝塑膜成型机、智能型大功率超声波焊接机、半自动极片冲切机、软
台阶仪
DektakXT
高真空分析型 扫描电子显微镜
JSM-6510A
电子顺磁共振波谱仪
JES—FA200
免费咨询
我要使用