精密离子减薄仪
PIPS II 695
精密离子减薄仪 PIPS II 695 美国Gatan公司
- 技术参数:
- 氩离子源,倾转角±10°,氩离子能量范围0.1 ~ 8.0 keV,载台X和Y方向的移动范围为±0.5 mm,双离子枪减薄,CCD实时观察,触摸屏调控,液氮冷台
- 功能特色:
- 采用聚焦离子束制备金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料的透射电镜试样(包括截面样品),薄区面积大、损伤小。
- 样品要求:
- 应用领域:
- 材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域
- 收费标准:
- 价格 面议