精密离子减薄仪 PIPS II 695 美国Gatan公司

技术参数:
氩离子源,倾转角±10°,氩离子能量范围0.1 ~ 8.0 keV,载台X和Y方向的移动范围为±0.5 mm,双离子枪减薄,CCD实时观察,触摸屏调控,液氮冷台
功能特色:
采用聚焦离子束制备金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料的透射电镜试样(包括截面样品),薄区面积大、损伤小。
样品要求:
应用领域:
材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域
收费标准:
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