光学表面分析仪-CS10-KLA-tencor-美国 CS10-KLA-tencor 美国

技术参数:
测量范围: 2~8英寸的单晶片以及外延片 小颗粒灵敏度:80nm
功能特色:
样品要求:
应用领域:
收费标准:
价格   面议