PPMS-综合物性测量系统的应用
时间:20/03/28

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综合物性测量系统Quantum Design PPMS-9

霍尔效应的应用

(1)判断半导体的类型

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(1)测量磁场

霍尔效应测试原理:

范德堡方法可以用来测量任意形状的厚度均匀的薄膜样品。在样品侧边制作四个对称的电极,如下图所示。

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测量电阻率时,依次在一对相邻的电极通电流,另一对电极之间测电位差,得到电阻R,代入公式得到电阻率ρ

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其中d为样品厚度,f为范德堡因子,是比值RAB,CD/RBC,AD的函数

以上便是范德堡方法测量薄膜材料电阻率的方法,这种方法对于样品形状没有特殊的要求,但是要求薄膜样品的厚度均匀,电阻率均匀,表面是单连通的,即没有孔洞。此外,A,B,C,D四个接触点要尽可能小(远远小于样品尺寸),并且这四个接触点必须位于薄膜的边缘.

Quantum Design PPMS-9仪器测量功能:

电阻率、磁电阻、微分电阻、霍尔系数、伏安特性、临界电流、交流磁化率、磁滞回线、热磁曲线、比热、热电效应、塞贝克系数、热导率和形貌表征等等


温控系统技术参数:

温控范围:1.9K - 400K 连续控制

0.4K He3 制冷机

温度扫描速率:0.01 - 8 K/min

温度稳定性:±0.2% T < 10k

磁控系统技术参数:

磁场范围:所含超导磁体最大场±9T,

磁场分辨率:0.2 mT to 9 T

磁场稳定性:1PPM/hour

变场速率:10-200 Oe/s

剩磁:< 5 oe(9T 以振荡模式降场)

磁体操作模式:闭环模式和驱动模式

米格实验室霍尔测试要求:

1、霍尔测试对样品电阻要求小于10GΩ。

2、欧姆接触要自己做,米格实验室可以连电极。

3、尺寸要求:5mm<长度<10mm,5mm<宽度<10mm,0.3mm<厚度<2mm.

4、测试使用范德堡法,要求样品无孔且电极位置尽量在四周角落,这是标准测试,如果客户要求测试中间位置,属于非标准测试,测试结果我们不保证,但是在您的要求下我们可以帮助测试。


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