北京世纪金光半导体有限公司入驻米格实验室平台
摘要：北京世纪金光半导体有限公司宽禁带功能材料和功率器件检测中心正式通过CNAS资质认证，并与米格实验室达成合作意向并签署战略合作协议，正式入驻米格实验室平台。
日前，北京世纪金光半导体有限公司宽禁带功能材料和功率器件检测中心与米格实验室达成合作意向并签署战略合作协议，正式入驻米格实验室平台。
随着功率半导体需求数量的飞速增长，以及新材料、新结构、光电集成、异质集成、系统封装等新技术的产生，增加了更多新的失效模式，因此功率半导体在实际应用环节中的可靠性要求也越来越高。宽禁带功能材料和功率器件检测中心可针对功率半导体的材料、工艺、结构、工况等特点 ，激发器件在热、电、机械多物理场作用下固有缺陷，分析器件在相应条件下的失效机理，为可靠性评估和器件寿命预测方法提供理论基础。
北京世纪金光半导体有限公司宽禁带功能材料和功率器件检测中心于2017年正式通过CNAS资质认证。
检测中心总占地面积520m2，现有检测设备58台，共有材料检测平台、器件测试平台、环境试验平台、老化寿命试验平台4个平台。
现阶段，“世纪金光”宽禁带功能材料和功率器件检测中心可对功率半导体进行失效机理分析以及可靠性的评估。目前，“世纪金光”自主研发的碳化硅SBD和MOSFET在工业领域均按照AEC-Q101标准进行检测，军工领域按照GJB33进行全项检测。
材料检测平台：
材料检测平台现有光学表面分析仪、原子力显微镜、平整度测试仪、拉曼光谱测试仪、偏光显微镜、非接触高阻测试仪、电阻率测试仪、CV汞探针测试仪、傅里叶红外测厚仪等共十台设备，可全方位表征2-8英寸多种功能材料的形貌、结构、表面质量、电学性能以及外延层材料形貌与电学性能 。
器件检测平台：
目前共有半导体分立器件静态测试系统、动态测试系统、热阻测试仪、浪涌电流测试仪、雪崩测试仪、全自动分选系统、高压探针台共7台套设备，可全方位表征多种封装形式的分立器件静动态参数水平。
环境试验平台：
平台共有8台主要试验设备，其中包括了双层精密高温试验箱、恒温恒湿试验箱、盐雾试验箱、冷热冲击试验箱、热冲击试验箱、快速温变试验箱、高低温试验箱、HAST高加速寿命试验箱等。
可提供以下服务能力：
高温贮存、低温贮存试验
盐雾试验
温度循环试验
温度冲击试验、热冲击试验
PCT、HAST试验
老化试验平台：
平台共有7台主要试验设备，包含二极管功率循环试验系统、二极管恒流老化试验系统、MOS管功率循环试验系统、MOS恒流老化试验系统、高温反偏试验箱、高温栅偏试验箱、高温高湿反偏试验箱等。
可提供以下服务能力：
器件（SBD和MOSFET等）高温反偏试验
器件（SBD和MOSFET等）高温栅偏试验
器件稳态湿热试验
二极管间歇寿命试验
二极管恒流、恒功率老化试验
MOSFET间歇寿命试验
MOSFET恒流、恒功率老化试验
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