微米线: 直径5um-1mm,长度 mm以上
纳米线:直径30nm-1um,长度20um以上
原理和仪器
图1 T型探针法测试装置
图2 T型探针法测试装置
技术指标:
测试样品:各种金属、非金属、导体、绝缘体、半导体材料单根纤维
测试温度:80K---325K
不确定度:<7%
测试结果输出:
(1)热导率
(2)电阻/导率
暂无
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