服务详情
原位拉伸扫描电镜（SEM）
￥面议
周期：5个工作日
设备：FEI Quanta 650FEG
可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形），高分子材料，陶瓷材料等
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样品要求
热固性塑性差，断裂后掉碎渣，污染电镜，不接
样品导电性要好，要不然断面看不清晰
样品尺寸如下
服务描述
二次电子分辨率
高真空模式：1.0nm @ 30kV；3.0nm @ 1kV
低真空模式：1.4nm @ 30kV；3.0nm @ 3kV
环境真空模式：1.4nm @ 30kV
背散射电子分辨率
高真空和低真空模式：2.5nm @ 30kV
加速电压
200V～30kV，连续可调
样品台移动范围
X=Y=150mm
主要配件
1. 能谱仪（EDS）：OXFORD X-MaxN（50），可对B-U之间的元素进行分析
2. 电子背散射衍射仪（EBSD）：OXFORD NordlysMax2，可进行晶体取向、晶粒尺寸、织构等分析
3. 拉伸台：GATAN DEBEN MICROTEST 2KN，在样品拉伸、弯曲过程中可原位动态观察和分析
案列展示
复合材料原位拉伸
