服务详情
红外椭偏仪测试
￥面议
周期：3-5个工作日
设备：
椭偏仪是一种测量薄膜特性的仪器。可以测量薄膜的厚度、折射系数、表面粗糙度、晶格结构和各项异性等
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样品要求
1.样品尺寸小于等于8英寸
2.薄膜透光
3.衬底不透光
服务描述
波长范围 ：400-800nm
膜厚范围： 亚纳米到几十微米
膜厚种类 ：OLED新材料、OLED有机蒸镀、有机导电膜、有机发光材料、ITO导电薄膜、金属电极、OLED封装材料
重复性测试测试精度： 0.05nm
光源： 高性能进口卤素灯光源
光斑尺寸 ：大光斑2-3mm
入射角： 65°
样件尺寸 ：支持到200mm*200mm
样件固定方式 真空吸附固定
案列展示
