透射电镜TEM/STEM
¥面议
周期:3-5个工作日
设备:JEM-2100F,
FEI Talos F200X,
FEI talos F200S
透射电镜主要应用是未知晶体结构的确定,微结构及缺陷结构的研究,薄膜以及多层膜的结构研究,调制结构研究
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样品要求
磁性样品需要提前告知
FIB制备的透射样
粉末制备的透射样
离子减薄制备的透射样
电解双喷制备的透射样
米格实验室也可以提供制样服务
服务描述
可提供TEM,STEM,EDS点、线、面,电子衍射花样服务
案列展示
案例一:电子衍射
案例二:EDS线扫
案例三:高分辨图像