半导体参数仪
4200-SCS
半导体参数仪 4200-SCS 吉时利 Kiethley
- 技术参数:
- 5 个 SMU 中等功率源测量单元:最大电压:210V;最大电流:100mA
分辨率:0.1pA;2 个 PA 前置放大器:最大电压:210V;最大电流:10nA
分辨率:0.1fA;1 个 CVU 电容测量模块:电压偏置:±30V;测量范围:1pF~1μF;频率范围:1kHZ~10MHZ;1 个 PMU/RPM 脉冲 IV 测量模块:最大电压:40V;最大电流:10mA;小测量时间:20ns;
- 功能特色:
- 用于半导体器件的 IV、CV、PIV 和寿命等特性的测试。
- 样品要求:
- 应用领域:
- 集成电路电压、电容、PCM参数测试;
- 收费标准:
- 价格 面议