X射线能谱仪 X-MAX50 英国·Oxford
- 技术参数：
- 能量分辨率优于127eV；元素分析范围Be4-Am95，具有点、线、面扫描功能
- 功能特色：
- 1.最新的谱峰模拟修正技术，轻元素定量分析结果比ZAF及PRZ方法修正定量误差小2/3；同时考虑了倾斜(θ)样品的分析，同样可以进行定量分析；2.先进的X-Max大面积晶体电制冷能谱探头，提供轻元素分辨率, 并给出测试条件≤127eV (Mn Ka 20,000cps) 元素范围：Be4-Pu94 Si晶体, 50mm 2活区；3.全谱面扫描(Live Spectrum Mapping)清晰度高达1024＊ 1024；4.计算的谱 (红色谱图) 与实验收集的谱 (黄色谱图) 进行比对, 手动进行谱峰识别, 可以鉴别重叠严重的谱峰, 扩展了能谱的功能, 也可以对有疑问的峰位立即进行波谱分析.
- 样品要求：
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
