纳米压痕仪 NHT2 奥地利•安东帕(原CSM)

技术参数:
最小有效加载载荷:0.1mN 最大有效加载载荷:500mN 有效载荷分辨率:40nN 最小接触力:1uN 最大压痕深度:200um 位移分辨率:0.004nm 位移信号稳定水平(或热漂移):0.02nm/sec
功能特色:
1.独特的参比环设计-实时消除大部分热漂移 2.灵活的试样夹具可夹持各种尺寸试样(无需用胶粘结试样) 3.高质量金相显微镜观测系统 4.计算机软件包,自动进行数据获取、储存、分析等
样品要求:
应用领域:
有机或无机、软质或硬质材料的检测分析,包括PVD、CVD、PECVD薄膜,感光薄膜,彩绘釉漆,光学薄膜,微电子镀膜,保护性薄膜,装饰性薄膜等等。基体可以为软质或硬质材料,包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物和有机材料等
收费标准:
价格   面议