纳米压痕仪
NHT2
纳米压痕仪 NHT2 奥地利•安东帕(原CSM)
- 技术参数:
- 最小有效加载载荷:0.1mN
最大有效加载载荷:500mN
有效载荷分辨率:40nN
最小接触力:1uN
最大压痕深度:200um
位移分辨率:0.004nm
位移信号稳定水平(或热漂移):0.02nm/sec
- 功能特色:
- 1.独特的参比环设计-实时消除大部分热漂移
2.灵活的试样夹具可夹持各种尺寸试样(无需用胶粘结试样)
3.高质量金相显微镜观测系统
4.计算机软件包,自动进行数据获取、储存、分析等
- 样品要求:
- 应用领域:
- 有机或无机、软质或硬质材料的检测分析,包括PVD、CVD、PECVD薄膜,感光薄膜,彩绘釉漆,光学薄膜,微电子镀膜,保护性薄膜,装饰性薄膜等等。基体可以为软质或硬质材料,包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物和有机材料等
- 收费标准:
- 价格 面议