高真空分析型
扫描电子显微镜
JSM-6510A
高真空分析型
扫描电子显微镜 JSM-6510A 日本电子公司
- 技术参数：
- 仪器设备性能参数：
低电压分辨率全世界最高
二次电子探测器：3.0nm（30kV），8.0nm（3kV），15nm（1kV），
背散射电子探测器：4.0nm（30kV）
2、全自动电子枪；
3、大视野观察范围；
4、高精度的变焦聚光镜系统：探测电流发生变化时，图像的聚焦状态可保持不变。且不需经常清洗；
5、超级圆锥形物镜；
6、高灵敏度半导体背散射探头；
7、全对中的样品台 ；
8、高灵敏度能谱（EDS）分析：分辨率高，可检测铍（Be）以上元素，分析速度快，线扫描只需1min左右。
9、界面，处理数据简捷、方便。
功能用途：
1、SEM照相；
2、能谱分析（EDS）
- 功能特色：
- 对金属材料，复合材料，矿物材料，陶瓷，生物等材料进行表面形貌，结构，缺陷，厚度，成分分析。承担校内校外实验 、实验课程、课题研究、各种失效分析。
- 样品要求：
- 1.样品需保证无磁性，无辐射，对电镜没有污染及损伤。粉末、块体材料。块体样品横向尺寸小于40mm，高度低于7mm。
- 应用领域：
- 生物，医学，动物，材料，陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂…化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品
- 收费标准：
- 价格 面议
