扫描电镜
- 技术参数：
- 1、扫描电子显微镜(SEM)的性能指标 型号：日本电子公司的JSM6480LV 二次电子像的分辨率：3.0nm(30kV)；4.0nm(LV) 放大倍数：×5～×300000 加速电压：0.5kV～30kV 束流：1pA～1μA 低真空度：1～270Pa 图象模式：二次电子像、背散射图象 样品尺寸：直径≤200mm; 高度≤80mm 2、能量色散谱仪（EDS）的性能指标 分辨率：133ev,(Mn Kα, 1000-3000cps)
- 功能特色：
- 1、扫描电镜：二次电子像，背散射电子像（用于形貌分析）； 2、能谱仪：可分析B、C、N、O等轻元素，进行点、线、面分析；同时获取10个以上不同元素的成分信息（线、面分析时），（用于成分分析）
- 样品要求：
- 1.样品需保证无磁性，无辐射，对电镜没有污染及损伤。粉末、块体材料。块体样品横向尺寸小于40mm，高度低于7mm。
- 应用领域：
- 生物，医学，动物，材料，陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂…化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品
- 收费标准：
- 价格 面议
