未收藏
半导体器件测试系统
Agilent B1500A
半导体器件测试系统 Agilent B1500A 美国安捷伦
技术参数:
电源和测量范围高达 200 V/1 A;最低测量分辨率为 0.1 fA / 0.5 µV;针对基础和高级 IV 测量提供点测量、扫描测量等功能
功能特色:
电流/电压(IV)测量;准静态 CV(QS-CV;采样测量;脉冲测量;脉冲生成;交流阻抗(CV)测量
样品要求:
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
掩模版:光学玻璃版
激光直写加工
纳米粒度仪
NANOPHOXTM (PCS)
高温X射线衍射仪
D8/Aduance
固态相变研究
Formast-FⅡ/Formast-D
免费咨询
我要使用