扫描电子显微镜附加X射线能谱仪 Phenom ProX/Phenom ProX 荷兰
- 技术参数：
- 1 .背散射电子像分辨率：8 nm 2.能量分辨率：<137eV 3 .放大倍数范围：5倍～130,000倍（连续可调）; 4. 加速电压：5－15kV（连续可调）； 5. 探测元素范围：B（5）- Am（95）
- 功能特色：
- 样品要求：
1 .样品必须是固体(块状或粉状),块状样品大小应小于:2厘米X2厘米;
2 .样品在真空中必须稳定,不含挥发成分;
3 .样品不得含有石蜡及各种油污或被它们污染过;
4. 磁性样品必须告知.
- 应用领域：
- 扫描电镜广泛地应用于金属材料（钢铁、冶金、有色、机械加工）和非金属材料（水泥、玻璃、陶瓷、化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、）等领域的检测和研究。在材料科学、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域，进行材料的微观形貌、组织结构、成分分析、材料断口分析和失效分析。微区元素定性、半定量分析；点分析，线分析和面分析
- 收费标准：
- 价格 面议
