微光显微镜EMMI P-100 北软检测芯片测试实验室
- 技术参数：
- 检查内容: 1、P-N接面漏电；P-N接面崩溃 2、饱和区晶体管的热电子 3、氧化层漏电流产生的光子激发 4、Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、 Hot Carriers Effect、ESD等问题
- 功能特色：
- 检查内容: 1、P-N接面漏电；P-N接面崩溃 2、饱和区晶体管的热电子 3、氧化层漏电流产生的光子激发 4、Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、 Hot Carriers Effect、ESD等问题
- 样品要求：
- 写清样品加电方式，电压电流，是否是裸die，是否已经开封，特殊要求等，
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
