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能谱分析EDX成分分析 FEI 北软检测芯片测试实验室

技术参数：
1.芯片电路修改和布局验证 2.Cross-Section截面分析 3.Probing Pad 4.定点切割
功能特色：
成分分析
样品要求：
样品情况，分析要求，样品尺寸，样品材质，导电性
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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