X射线衍射仪 X-Ray Diffraction
ULTIMA ⅣRigaku
X射线衍射仪 X-Ray Diffraction ULTIMA ⅣRigaku 理学日本
- 技术参数:
- 技术参数:
X光管:Cu靶,额定功率2.2kW,焦点尺寸0.4-1.2mm;
X射线发生器:电压20-60kV,电流2-60mA,额定输出功率3kW;
测角仪:角度测范围-3-160°,扫描速度-0.02-100°,步长0.002-12°。
- 功能特色:
- 应用领域:
广泛应用于冶金和机械工业、地球和采矿工业、生物和医药工业、环保和能源工业、半导体和微电子工业、石油和化学工业等多个领域的材料分析与研究工作中。
(1)物相鉴定:包括定性相分析和定量相分析。
(2)点阵参数的测定。
(3)结晶度的测定。
(4)Rietveld结构精修:例如在锂离子正极材料中便可利用Rietveld结构精修方法进行晶胞参数的精修以及阳离子混排度的计算。
- 样品要求:
- 应用领域:
- 收费标准:
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