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FIB聚焦离子束 FEI,Helios G4 CX 赛默飞

技术参数：
电子束核心指标：分辨率1.1最佳工作距离分辨率：1.0nm @ 1kV1.2束交叉点分辨率：0.6nm @ 15kV; 2.5nm@1kV
功能特色：
.集成电路线路修改；2. 透射样品切割，包括硅基、纳米颗粒、陶瓷颗粒等
样品要求：
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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