未收藏
XPS分析:剖层分析
X射线光电子能谱仪
XPS分析:剖层分析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
样品要求:干燥、无磁性的粉末或者薄片,样品量最好在10g以上;块状的话尺寸:5*5mm*1.2mm以下,若样品有磁性只能是粉末不能是薄片;
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
半导体参数仪
Agilent B1500
Shimadzu IRAffinity-1s红外光谱仪
Affinity-1S
XPS分析:深度分析(XPS)(米格)
x 射线光电子能谱仪
场发射透射电子显微镜
Tecnai G2 F20
免费咨询
我要使用