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XPS/REELS分析：解决方案 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi

技术参数：
X射线光电子能谱仪
功能特色：
样品要求：
空间分辨率可达3um，穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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